Erweiterung von LEICA Mikroskopen mit Elementanalyse LIBS
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LIBS ist in der Lage alle Elemente von Wasserstoff bis Uran qualitativ und quantitativ nachzuweisen. Schnell, kostengünstig und einfach sind damit Materialanalysen zur Kontrolle von Legierungen oder die Elementanalyse von Schliffbildern möglich. Und das mit einer lateralen Auflösung von wenigen Mikrometern und einer spektralen Auflösung, die Mischungen im ppm-Bereich aufklären kann.
Die Untersuchung von Schichtsystemen ist durch den LIBS-eigenen Materialabtrag darstellbar.
Kein Wunder, dass dieses Ergebnis eines gemeinsamen Projektes von rap.ID in Berlin und LEICA Microsystems in Wetzlar großes Aufsehen auf der diesjährigen parts2clean erregte. Gleich in zwei Vorträgen im Expertenforum war diese Erweiterung der optischen Auswertung mit Spektroskopie für die Materialidentifikation Thema.
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Datum: 23.06.2015 - 13:37 Uhr
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