NI senkt Kosten für Produktionsprüfung von Mobilfunkgeräten

Das neue PXI-basierte Wireless Test System ist auf Geschwindigkeit optimiert und vervielfacht den Durchsatz in der Produktion.

(firmenpresse) - Pressemitteilung, 4. August 2015 – NIWeek – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt heute das Wireless Test System (WTS) vor, eine Lösung, mit der die Kosten für Produktionstests von Mobilfunkgeräten in der Großserienfertigung deutlich gesenkt werden. Trotz zunehmender Komplexität der Tests von Mobilfunkgeräten können Unternehmen die Testkosten ohne Weiteres reduzieren und den Durchsatz in der Produktion vervielfachen. Dies wird durch den Einsatz von Systemen möglich, die für Messgeschwindigkeit und paralleles Testen optimiert sind.

„Megatrends wie das Internet der Dinge (Internet of Things, IoT) werden dazu führen, dass in mehr und mehr Geräten RF- und Sensorfunktionalität enthalten sein wird, deren Test bisher kostenaufwendig war. Doch die Testkosten sollten nicht die Innovationen oder die Wirtschaftlichkeit eines Produkts begrenzen“, erklärt Olga Shapiro, Program Manager for Measurement and Instrumentation bei Frost & Sullivan. „Um in Zukunft profitabel zu bleiben, werden Unternehmen ihre bisherigen Vorgehensweisen überdenken und für völlig neue Ansätze im Bereich Mobilfunktest offen sein müssen. Da das WTS auf der bewährten PXI-Plattform basiert und auf der guten Kenntnis des Marktes von NI beruht, erwarten wir, dass es einen deutlichen Einfluss auf die Profitabilität des IoT haben wird.“

Auf Basis der neuesten Hardwareentwicklungen der PXI-Plattform bietet das WTS eine durchgängige Plattform für das Testen mehrerer Standards und mehrerer Prüflinge mit jeweils einem oder mehreren Anschlüssen. Zusammen mit flexibler Software zur Entwicklung von Testplänen wie dem TestStand Wireless Test Module können Hersteller die Auslastung ihrer Messgeräte wesentlich verbessern, indem sie mehrere Prüflinge parallel testen. Wegen seiner integrierten Ansteuerung der Prüflinge, den Mechanismen zur dezentralen Automatisierung sowie fertiger Testpläne für Chipsätze von Herstellern wie Qualcomm und Broadcom lässt sich das WTS einfach in eine Fertigungslinie integrieren. Aufgrund dieser Besonderheiten verzeichnen Anwender beträchtliche Effizienzsteigerungen bei der Nutzung ihrer RF-Prüfgeräte und weitere Senkungen der Testkosten.



„Wir sind in der Lage, mit dem NI Wireless Test System sämtliche drahtlosen Standards, von Bluetooth über WLAN bis hin zu GPS und Mobilfunk, mit ein und demselben Gerät zu testen“, erklärt Markus Krauss, HARMAN/Becker Automotive Systems GmbH. „Das WTS sowie das Know-how von NOFFZ auf dem Gebiet der HF-Testsysteme haben es uns ermöglicht, die Testzeit sowie die Einrichtungs- und Inbetriebnahmezeit unserer Testsysteme deutlich zu reduzieren.“

Das WTS ist das neueste System von NI, das auf der PXI-Hardwareplattform und der Software LabVIEW sowie TestStand basiert (vergleichbar mit dem Semiconductor Test System, das 2014 auf den Markt gebracht wurde). Es unterstützt Funkstandards von LTE Advanced über 802.11ac bis hin zu Bluetooth Low Energy und ist für Produktionstests von WLAN Access Points, Mobilfunkgeräten und Infotainment-Systemen sowie für Produktionstests aller möglichen anderen Geräte ausgelegt, in die z. B. Mobilfunk-, WLAN- oder Navigationsfunktionen integriert sind. Die im WTS verwendete SDR-Technologie des PXI-Vektorsignal-Transceivers ermöglicht bessere RF-Leistungsmerkmale bei Produktionstests und schafft eine Plattform, die flexibel an die wechselnden Anforderungen an RF-Tests angepasst werden kann.

Weitere Informationen zum neuen Wireless Test System bietet die Website ni.com/wts.



Über National Instruments
Seit 1976 ermöglicht NI (ni.com) Ingenieuren und Wissenschaftlern, die weltweit größten technischen Herausforderungen mit leistungsstarken, flexiblen Systemen zu bewältigen, mit denen sie schneller produktiv arbeiten und Innovationen zügiger realisieren können. Kunden aus einer Vielzahl von Branchen – vom Gesundheitswesen bis zur Automobilindustrie sowie von der Unterhaltungselektronik bis hin zur Teilchenphysik – nutzen die integrierte Hard- und Softwareplattform von NI, um unsere Welt noch lebenswerter zu machen.
Weitere Infos zu dieser Pressemeldung:

Themen in dieser Pressemitteilung:


Unternehmensinformation / Kurzprofil:
PresseKontakt / Agentur:
Bereitgestellt von Benutzer: National Instruments
Datum: 05.08.2015 - 13:22 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1246801
Anzahl Zeichen: 4411

Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Eva Heigl
Stadt:

München

Telefon: +49897413130

Kategorie:

Messtechnik

Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 05.08.2015

Diese Pressemitteilung wurde bisher 1064 mal aufgerufen.

22. Technologie- und Anwenderkongress "Virtuelle Instrumente in der Praxis - VIP 2017" ...
München, 28. August 2017 – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen veranstaltet bereits zum 22. Mal den Technologie- und Anwenderkongress „Virtue

Schnellere 5G-Prototypenerstellung mit der LabVIEW Communications Systems Design Suite ...
Pressemitteilung, 16. August 2016 – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt heute die LabVIEW Communications System Design Suite 2.0 vor, ein

NI erweitert Unterrichtsplattform NI ELVIS um neues Modul für mechatronische Entwürfe ...
Pressemitteilung, 17. August 2016 – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt heute die neueste Ergänzung seiner leistungsfähigen Produktplat

Weitere Mitteilungen von National Instruments Germany GmbH

Programmcode schneller entwickeln mit LabVIEW 2015 ...
Pressemitteilung, 3. August 2015 – NIWeek – National Instruments (Nasdaq: NATI) trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei. Das Unternehmen stellt heute LabVIEW 2015 vor, die neue Version der Systemdesi

Latzke - Seit 20 Jahren Spezialist für Härteprüfung ...
Im Juni dieses Jahres wurde das 20-jährige Bestehen von Latzke mit einer zweitägigen Jubiläumsveranstaltung gefeiert. Dabei wurden aktuelle und zukünftige Themen im Umfeld der Härteprüfung durch verschiedene Referenten aufgegriffen; von Zwick, der PTB und auch von Latzke selbst. Die Härteprü

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“ ...
Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie unterschiedlicher Unternehmen. Ein Highlight des Seminars war die Präsentation von Brecht Vallaey (Universität Leuven) zum Thema ”Insitsu Messungen mit Ellipsometrie imGasumfeld”. Besonders interessant waren die Vorträge

20. Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2015“ ...
National Instruments (Nasdaq: NATI), das mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen beiträgt, veranstaltet bereits zum 20. Mal den Technologie- und Anwenderkongress „Virtuelle Instrumente in der Praxis“. Dieser f