Mit einer integrierten Plattform das IIoT gestalten
ID: 1283296
Auf VIP 2015 präseniert NI leistungstarke und flexible Systeme, um die Chancen des IIoT zu nutzen
Nach der Begrüßung der Teilnehmer durch Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, präsentierten Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director und Daniel Riedelbauch, Marketing Manager Central and Eastern Europe bei NI neue Technologien, Trends und Kundenlösungen. So wurde präsentiert, wie Jaguar Land Rover mehr Wissen aus Big Analog Data durch Unterstützung der Datamanagement Software NI DIAdem gewinnt.
Mit dem NI Semiconductor Test System (STS) zeigte NI ein PXI-basiertes Prüfsystem für den Halbleitertest, welche durch die Integration von NI PXI-Modulen und Testmanagement-Software die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte im Halbleitersegment senkt.
Ein weiteres Beispiel für ein Prüfsystem auf Basis von NI PXI ist das dieses Jahr neu präsentierte Wireless Test System (WTS). Dank schnellerer Messungen können die Fertigungskosten von Geräten wie Mobiltelefonen, Tablets und Infotainment-Systemen verringert werden. Das WTS unterstützt verschiedene Wireless-Standards, wie u.a. LTE-A, WLAN (802.11ac) und Bluetooth LE. Peiker und Noffz Technologies präsentierten hierzu Ihre erfolgreiche Kundenlösung zum Thema eCall.
Emotional wurde es beim Beitrag von Berlin Heart. Das Unternehmen entwickelt Systeme für die mechanische Herzunterstützung. Die Systeme helfen Kindern die Zeit bis zur Transplantation eines Spenderherzens zu überstehen. Diese Systeme werden mit NI CompactDAQ und LabVIEW getestet.
Diagnostic Sonar präsentierte eine Anwendungslösung basieren auf der LabVIEW RIO Architecture. Die Rechenleistung des FPGAs ermöglichte es ihnen ein industrielles Ultraschallsystem zu entwickeln um kleinste Defekte und Materialschäden in bzw. an Flugzeugen zu erkennen. Mit dem neuen FlexRIO Controller ist es nun möglich dieses System in einen portablen Formfaktor zu bringen.
Den zweiten Kongresstag eröffnete Francis Griffiths, Senior Vice President, Regional Sales and Marketing bei NI. Als Gastredner ging anschließend Volker Bibelhausen, Vice President Factory Automation bei der Bosch Rexroth AG, auf das Thema „Vernetzung, Digitalisierung, Industrie 4.0 – die Welt ändert sich“ ein. Er skizzierte, wie neues Wissen entsteht, in Zukunft Nutzen bringen wird und zudem verfügbar gemacht werden kann.
Die Gewinner des Egineering Impact Award sind die Firmen Harman/Becker und Noffz Computer Technik GmbH mit dem Beitrag „Leistungsstarker HF- und Funktionstest von Infotainment- und eCall-Modulen im Fahrzeug“.
Die eingereichten Anwenderberichte wurden in einem begleitenden Tagungsband veröffentlicht, der als „Virtuelle Instrumente in der Praxis 2015. Begleitband zum 20. VIP-Kongress“ im VDE Verlag erschienen ist.
Am 23. Oktober fand im Anschluss zum VIP-Kongress das Academic Forum statt. Der ehemalige Dozenten-und Ausbildertag richtete sich dieses Mal zusätzlich auch an den Forschungsbereich. Eröffnet wurde dieser Tag durch die Keynote von Dave Wilson, Vice President Academic bei National Instruments, zum Thema „Die Zukunft gestalten“.
Im Rahmen des VIP 2015 präsentierten außerdem über 40 Partner und Systemintegratoren in einer Fachausstellung ihre Lösungen und Produkte.
Ein weiteres Highlight war der Gala-Abend am ersten Kongresstag anlässlich des 20-jährigen Jubiläums des VIP-Kongresses.
Detaillierte Informationen rund um den VIP-Kongress 2015 stehen Ihnen unter www.ni.com/vip zur Verfügung.
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Datum: 02.11.2015 - 11:04 Uhr
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