MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie
ID: 1640170
Neuer pyroelektrischer Messkopf für die schlitzbasierte Strahlprofilmessung im mittleren Infrarotbereich, erweiterter Messbereich für Silizium-Messköpfe
MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie (Bildquelle: @MKS Ophir)(firmenpresse) - MKS Instruments stellt gleich mehrere Neuerungen für die schlitzbasierten Profilmessgeräte der Ophir NanoScan Serie vor. So vergrößert sich der Messbereich der Ophir NanoScan Modelle mit Silizium-Messkopf auf Wellenlängen bis 1100nm. Die Messung von durchstimmbaren Lasern wird damit für Anwender deutlich einfacher und günstiger. Mit dem neuen NanoScan MIR ergänzt der Messtechnikspezialist sein Portfolio um ein schlitzbasiertes NanoScan Modell mit pyroelektrischem Messkopf für die Anwendung im mittleren Infrarotbereich. Das Profilmessgerät eignet sich für Wellenlängen von 900nm bis fünf Mikrometer. Als Highlight bietet Ophir seinen Kunden die Möglichkeit, noch bis Ende des Jahres die passende NanoScan Software in der Professional Version mit integrierter Automatisierungs-Schnittstelle ohne Aufschlag zur NanoScan Standard Software herunterzuladen.
Die schlitzbasierten Strahlprofilmessgeräte der NanoScan Serie eignen sich insbesondere für die Messung kleiner Strahldurchmesser und werden häufig von Herstellern von Laserstrahlquellen u.a. für die Medizintechnik eingesetzt. Alle Modellvarianten überzeugen durch schnelle und sehr präzise Messungen. "Mit unseren Neuerungen bei der NanoScan Familie bieten wir den Anwendern eine günstig Alternative zur Strahlvermessung im NIR- bis MIR-Bereich sowie generell beim automatisierten Messbetrieb von kleinen Strahldurchmessern bis zu sieben Mikrometer", erklärt Christian Dini, Director Global Business Development Ophir. Die Ophir NanoScan Messgeräte sind mit Silizium-, Germanium- und pyroelektrischen Messköpfen erhältlich und decken damit einen weiten Bereich an Wellenlängen und Laserleistungen ab. Die passende Software errechnet ISO-konform zahlreiche Strahlparameter, beinhaltet einen M2-Assistenten und ermöglicht die Messung der Laserleistung.
Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com/laser--measurement/de/beam-profilers/products/Scanning-Slit-Beam-Profiling-with-NanoScan
Weitere Infos zu dieser Pressemeldung:
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Über Ophir Spiricon Europe GmbH:
Ophir, eine Marke der MKS Instruments, Inc., bietet eine breite Palette an Messtechnik, darunter Leistungs- sowie Energiesensoren und Strahlprofilmessgeräte und entwickelt kontinuierlich innovative Produkte zur Messung von Lasern und LED-Leuchten. Die modularen, individuell anpassbaren Lösungen werden rund um die Welt in Fertigung, Medizintechnik, im militärischen Bereich und der Forschung eingesetzt. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.de
claro! PR+Text
Dagmar Ecker
Allmannspforte 5
68649 Gross-Rohrheim
de(at)claro-pr.de
+49 6245 906792
www.claro-pr.de
Datum: 16.08.2018 - 09:50 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1640170
Anzahl Zeichen: 2299
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Christian Dini
Stadt:
Darmstadt
Telefon: +49 6151 708 0
Kategorie:
Maschinenbau
Diese Pressemitteilung wurde bisher 667 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
Ophir Spiricon Europe GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).
