MKS Instruments stellt neuen Ophir® Wide Beam Imager vor
Große und divergente Strahlen im kurzwelligen Infrarotbereich einfach messen
Der Ophir WB-I SWIR Profiler ermöglicht es, große und divergente Strahlen im SWIR Bereich zu messen (Bildquelle: @Ophir)(firmenpresse) - Darmstadt, 8.12.21 - Der Ophir Wide Beam Imager SWIR (WB-I SWIR) von MKS Instruments ermöglicht es, Größe und Leistungsverteilung von großen und divergenten Strahlen von VCSELs oder LEDs im SWIR-Bereich zwischen 900 und 1700nm zu messen. Dazu wird das kompakte, kalibrierte optische System hardwareseitig mit einer Ophir InGaAs Kamera kombiniert; die Auswertung erfolgt mit der Ophir BeamGage Software.
Bislang führten Strahlprofilmessungen in diesem Wellenlängenbereich aufgrund der hohen Winkelabhängigkeit der Sensoren entweder zu ungenauen Ergebnis oder es mussten teure, unhandliche Messgeräte eingesetzt werden. Mit dem WB-I SWIR hingegen lassen sich alle Strahlen jeglicher Form (rund, linienförmig, eckig oder Doughnut) messen, die für den Kamerasensor alleine zu groß wären. Das System verfügt über eine 45mm große Apertur, und Strahlen mit einem Einfallswinkel von bis zu 70 Grad (im Vergleich zu 15 Grad bei einem Standard-Strahlprofilmessgerät) lassen sich präzise messen. Die Strahlen treffen auf einem durchlässigen Diffusorschirm und werden von dort mit einer kalibrierten Optik erneut abgebildet, um ein vollständiges und präzises Bild der Intensitätsverteilung des Lichts zu erhalten. In Kombination mit kamerabasierten Strahlprofilmessgeräten eignet sich der WB-I-SWIR Profiler für Messungen in Bereichen wie augensichere Anwendungen von IR VCELs oder Dioden, LiDAR-Systemen, Gesichts- oder Gestenerkennung oder der Fernerkundung.
"Für große und divergente Strahlen sind die Aperturen konventioneller Strahlprofilmessgeräte schlicht zu klein. Sie erfassen nicht den gesamten Strahl", erläutert Reuven Silverman, General Manager Ophir Photonics. "Zusätzlich beeinflusst der Einfallswinkel des Strahls die Quanteneffizienz traditioneller Strahlprofilmessgeräte sehr stark. Sie nimmt bei Einfallswinkeln von bis zu 20 Grad drastisch ab, was zu erheblichen Messfehlern führt. Der WB-I SWIR ist ein kalibriertes System, das Strahlwinkel bis 70 Grad erfasst und die Leistungsverteilung mit einer sehr hohen Genauigkeit - die Abweichung liegt bei weniger als +/-5% - darstellt."
Ebenso wie das zweite Produkt der Serie, das WB-I System für Strahlen im UV-, VIS- und NIR-Bereich mit Wellenlängen von 350 bis 1100nm, überzeugt der WB-I SWIR Profiler durch die einfache Anwendung. Die Komponente ist kompakt, staubgeschützt und lässt sich einfach installieren und anwenden. Im Gegensatz zu selbstgebauten Hilfsmitteln mit geringer Genauigkeit oder langsamen und teuren Goniometern, erzeugt der WB-I-SWIR Bilder der Leistungsverteilung mit reduziertem Speckle und hoher Genauigkeit.
Das WB-I SWIR System wird von der Ophir BeamGage Professional Software unterstützt, die als industrieweit fortschrittlichstes Strahlprofilanalyse-System gilt. Werden WB-I SWIR Profiler, BeamGage Software und die Ophir SP1203 InGaAs Kamera kombiniert, ermöglicht dies die Echtzeitanalyse der Strahlform sowie deren Visualisierung.
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Datum: 08.12.2021 - 12:50 Uhr
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