MKS Instruments stellt neuen Ophir® Wide Beam Imager vor
Große und divergente Strahlen im kurzwelligen Infrarotbereich einfach messen
Der Ophir WB-I SWIR Profiler ermöglicht es, große und divergente Strahlen im SWIR Bereich zu messen (Bildquelle: @Ophir)(firmenpresse) - Darmstadt, 8.12.21 - Der Ophir Wide Beam Imager SWIR (WB-I SWIR) von MKS Instruments ermöglicht es, Größe und Leistungsverteilung von großen und divergenten Strahlen von VCSELs oder LEDs im SWIR-Bereich zwischen 900 und 1700nm zu messen. Dazu wird das kompakte, kalibrierte optische System hardwareseitig mit einer Ophir InGaAs Kamera kombiniert; die Auswertung erfolgt mit der Ophir BeamGage Software.
Bislang führten Strahlprofilmessungen in diesem Wellenlängenbereich aufgrund der hohen Winkelabhängigkeit der Sensoren entweder zu ungenauen Ergebnis oder es mussten teure, unhandliche Messgeräte eingesetzt werden. Mit dem WB-I SWIR hingegen lassen sich alle Strahlen jeglicher Form (rund, linienförmig, eckig oder Doughnut) messen, die für den Kamerasensor alleine zu groß wären. Das System verfügt über eine 45mm große Apertur, und Strahlen mit einem Einfallswinkel von bis zu 70 Grad (im Vergleich zu 15 Grad bei einem Standard-Strahlprofilmessgerät) lassen sich präzise messen. Die Strahlen treffen auf einem durchlässigen Diffusorschirm und werden von dort mit einer kalibrierten Optik erneut abgebildet, um ein vollständiges und präzises Bild der Intensitätsverteilung des Lichts zu erhalten. In Kombination mit kamerabasierten Strahlprofilmessgeräten eignet sich der WB-I-SWIR Profiler für Messungen in Bereichen wie augensichere Anwendungen von IR VCELs oder Dioden, LiDAR-Systemen, Gesichts- oder Gestenerkennung oder der Fernerkundung.
"Für große und divergente Strahlen sind die Aperturen konventioneller Strahlprofilmessgeräte schlicht zu klein. Sie erfassen nicht den gesamten Strahl", erläutert Reuven Silverman, General Manager Ophir Photonics. "Zusätzlich beeinflusst der Einfallswinkel des Strahls die Quanteneffizienz traditioneller Strahlprofilmessgeräte sehr stark. Sie nimmt bei Einfallswinkeln von bis zu 20 Grad drastisch ab, was zu erheblichen Messfehlern führt. Der WB-I SWIR ist ein kalibriertes System, das Strahlwinkel bis 70 Grad erfasst und die Leistungsverteilung mit einer sehr hohen Genauigkeit - die Abweichung liegt bei weniger als +/-5% - darstellt."
Ebenso wie das zweite Produkt der Serie, das WB-I System für Strahlen im UV-, VIS- und NIR-Bereich mit Wellenlängen von 350 bis 1100nm, überzeugt der WB-I SWIR Profiler durch die einfache Anwendung. Die Komponente ist kompakt, staubgeschützt und lässt sich einfach installieren und anwenden. Im Gegensatz zu selbstgebauten Hilfsmitteln mit geringer Genauigkeit oder langsamen und teuren Goniometern, erzeugt der WB-I-SWIR Bilder der Leistungsverteilung mit reduziertem Speckle und hoher Genauigkeit.
Das WB-I SWIR System wird von der Ophir BeamGage Professional Software unterstützt, die als industrieweit fortschrittlichstes Strahlprofilanalyse-System gilt. Werden WB-I SWIR Profiler, BeamGage Software und die Ophir SP1203 InGaAs Kamera kombiniert, ermöglicht dies die Echtzeitanalyse der Strahlform sowie deren Visualisierung.
Weitere Informationen zu Ophir Messtechnik finden Sie unter www.ophiropt.com/deWeitere Infos zu dieser Pressemeldung:
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Über MKS Instruments
MKS Instruments ist ein weltweit führender Anbieter von Instrumenten, Subsystemen und Prozessteuerungen zum Messen, Überwachen, Steuern und Analysieren kritischer Parameter in hochentwickelten Produktionsprozessen zur Optimierung der Prozessleistung und Produktivität. Unsere Produkte basieren auf unseren Kernkompetenzen in den Bereichen Druckmessung und -steuerung, Durchflussmessung und -steuerung, Gas- und Dampferzeugung, Gas- und Restgasanalyse, Leckageerkennung, Steuerungs- und Informationstechnologie, Ozonerzeugung und -verteilung, Energieversorgung, Erzeugung reaktiver Gase, Vakuumtechnologie. Photonik, Hochpräzisionspositionierung, Vibrationsisolierung und Optik. Zu unseren Kernmärkten zählen die Halbleiterproduktion, die Investitionsgüterindustrie, Life Science sowie Forschung und Wissenschaft. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.mksinst.com
Über Ophir
Ophir, eine Marke der Light & Motion Division von MKS Instruments, Inc., bietet eine breite Palette an Messtechnik, darunter Leistungs- sowie Energiesensoren und Strahlprofilmessgeräte und entwickelt kontinuierlich innovative Produkte zur Messung von Lasern und LED Leuchten. Die modularen, individuell anpassbaren Lösungen werden rund um die Welt in Fertigung, Medizintechnik, im militärischen Bereich und der Forschung eingesetzt. Weitere Informationen finden Sie unter http://www.ophiropt.com
claro! text und pr
Dagmar Ecker
Allmannspforte 5
68649 Gross-Rohrheim
de(at)claro-pr.de
+49 6245 906792
www.claro-pr.de
Datum: 08.12.2021 - 12:50 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1947040
Anzahl Zeichen: 3299
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Jens Voigtländer
Stadt:
Darmstadt
Telefon: +49 6151 708 0
Kategorie:
Maschinenbau
Diese Pressemitteilung wurde bisher 252 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"MKS Instruments stellt neuen Ophir® Wide Beam Imager vor"
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
Ophir Spiricon Europe GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).
