Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optische

Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik

ID: 1979328

Neuerscheinung: Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3D-Messtechnik




(PresseBox) - Die aktuelle Buchneuerscheinung des VDE VERLAGs präsentiert die Tagungsbeiträge der 19. Oldenburger 3D-Tage, die vom 5. Bis 6. Februar 2020 stattfanden. Die verschiedenen Beiträge spiegeln neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik wider.

Luhmann, Thomas; Schumacher, Christina (Hrsg.)

Photogrammetrie - Laserscanning - Optische 3D-Messtechnik

Beiträge der Oldenburger 3D-Tage 2020

2020

293 Seiten, Broschur

66,- €

ISBN 978-3-87907-688-8

 

Alle Tagungsbeiträge der 19. Oldenburger 3D-Tage vom 5. bis 6. Februar 2020

Neueste Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Photogrammetrie, Laserscanning und optischer 3D-Messtechnik

Themenschwerpunkte: Dynamische Prozesse, Oberflächenerfassung und Modellierung, Navigation von Objekten und Sensoren, Mobile Systeme und Plattformen, Neue Sensoren und Systeme, Messunsicherheit und Standardisierung, Kalibrierung und Orientierung

Das Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik der Jade Hochschule Wilhelmshaven/Oldenburg/Elsfleth veranstaltete vom 5. bis 6. Februar 2020 die 19. Oldenburger 3D-Tage. Diese Veranstaltung bildet eine wichtige Plattform für Experten der Bereiche Photogrammetrie, Geodäsie und industrieller Messtechnik. Die Veranstaltung gilt als eine der wichtigen in diesem Bereich. Die aktuellen Beiträge dokumentieren die neuesten Forschungsergebnisse und Anwendungsbeispiele aus Wissenschaft und Praxis, die in dieser Form kaum zu finden sind.

Prof. Dr.-Ing. habil. Dr. h. c. Thomas Luhmann, Jahrgang 1957, studierte Geodäsie an der Universität Hannover. Am dort angesiedelten Institut für Photogrammetrie und Ingenieurvermessung war er als wissenschaftlicher Mitarbeiter tätig und promovierte 1988. Von 1988 bis 1993 war Luhmann Projekt- und Entwicklungsleiter Photogrammetrie bei Kern und Leica, Schweiz. Seit 1993 ist er Professor für Photogrammetrie und Fernerkundung an der heutigen Jade Hochschule in Oldenburg. Luhmann ist Mitglied in zahlreichen Fachgremien, Autor der Lehrbücher „Nahbereichsphotogrammetrie" und „Close Range Photogrammetry and 3D Imaging" sowie Herausgeber weiterer Werke zum Thema.



Dipl.-Ing. (FH) Christina Schumacher, Jahrgang 1974, absolvierte ein Studium des Vermessungswesens an der Fachhochschule Oldenburg. Von 2002-2010 war sie wissenschaftliche Mitarbeiterin am Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik und dort verantwortlich für wissenschaftliche Weiterbildung und interdisziplinären Technologietransfer im Bereich der optischen 3D-Messtechnik. Seit 2008 leitet Schumacher den Wissens- und Technologietransfer der Hochschule am Standort Oldenburg.

 Zielgruppe: Praktiker, Wissenschaftler und Studierende in den Bereichen Photogrammetrie, Geodäsie, Geoinformatik und Geowissenschaften sowie aus dem Maschinen- und Anlagenbau, Automobilbau, Bauingenieurwesen, Architektur, Denkmalpflege, Stadtplanung, Archäologie, Forstwissenschaft, Medizin u. v. m.

 

 

Der von dem Ingenieur Dr. Kurt Slawik 1933 in Berlin gegründete Herbert Wichmann Verlag gilt mit seinen maßgeschneiderten Fachmedien über Geoinformatik/GIS, Geodäsie/Vermessung, Photogrammetrie/Fernerkundung und Verkehrsplanung als eine der ersten Adressen in diesem Bereich. Das Angebot umfasst Fachbücher und E-Books, Loseblattwerke, die Fachzeitschriften avn, GIS.BUSINESS und GIS.SCIENCE sowie das Portal gis.POINT. Seit 2010 befindet sich die Verlagsmarke unter dem Dach des VDE VERLAGs.

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Der von dem Ingenieur Dr. Kurt Slawik 1933 in Berlin gegründete Herbert Wichmann Verlag gilt mit seinen maßgeschneiderten Fachmedien über Geoinformatik/GIS, Geodäsie/Vermessung, Photogrammetrie/Fernerkundung und Verkehrsplanung als eine der ersten Adressen in diesem Bereich. Das Angebot umfasst Fachbücher und E-Books, Loseblattwerke, die Fachzeitschriften avn, GIS.BUSINESS und GIS.SCIENCE sowie das Portal gis.POINT. Seit 2010 befindet sich die Verlagsmarke unter dem Dach des VDE VERLAGs.



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Datum: 11.05.2022 - 10:27 Uhr
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Kategorie:

Optische Technologien



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