Technologiesprung: TestWay Express ermittelt "Yield-Estimation"

Cesson-Sévigné, Frankreich/electronica 2010, München, 02. November 2010, in Halle A1, Stand 352

(PresseBox) - Während der electronica 2010, die am 9. November ihre Tore in der Neuen Messe München öffnet, wird ASTER Technologies, der führende Anbieter von Testability- und Testcoverage-Analyse Tools auf Leiterplattenebene die Erweiterung seines Testcoverage-Werkzeugs um ein neues Tool zu Ausbeute-Abschätzung (Yield Estimation) präsentieren.
Die Möglichkeit, die Linienausbeute (First Pass Yield FPY) und weitere Qualitätskennzahlen des IPC bestimmen zu können, hat im Umfeld steigender Fremdvergabe der Produktion von Hightech-Produkten an Dienstleister erheblich zugenommen. Projektteams und ihre Leiter benötigen möglichst genaue Abschätzungen über die Linienausbeute, um den Aufwand für Test, Fehlersuche, benötigtes Equipment und erforderliches Personal budgetieren und planen zu können. Darüber hinaus muss meistens das Management potenzielle Dienstleister einer Benchmark unterziehen, um ihre Qualitätsfähigkeit zu bewerten.
Bei qualitätsbasierten Testmodellen werden die Testkosten aus der First-Pass-Yield Linienausbeute abgeleitet, die wiederum auf einer Qualitätsanalyse des Produktdesigns und der einzelnen Schritte im Produktionsprozess beruht. Für alle Kostentreiber werden die ppm-Fehlerraten jedes Produktionsprozesses errechnet. Die prognostizierten Fehlerraten werden auf Produktebene hochgerechnet. Somit kann die Teststrategie ausgewählt werden, die die geringsten Gesamtkosten für Test und Nacharbeit aufweist.
Die wichtigste Kennzahl zur Bewertung der Qualität eines gelieferten Produktes ist die Fehlerschlupfrate. Ein durchgeschlüpfter Fehler (Escape) ist ein Fehler, der nicht durch eigene Tests, sondern vom Endkunden erkannt wurde. Fehler, die der Kunde entdeckt, sind nicht nur extrem teuer, sondern schaden auch dem Image des Unternehmens.
Christophe LOTZ, Geschäftsführer von ASTER formulierte es so: "TestWay Express ist die perfekte Antwort auf die entscheidende Frage, wie die Anzahl der gelieferten fehlerbehafteten Produkte minimiert werden kann, um mögliche Rücklieferungen zu minimieren.


TestWay Express prognostiziert die Produktionsausbeute, indem es die in ppm ausgedrückten Fehler pro einer Million Fehlermöglichkeiten (DPMO) in Echtzeit aus den Fertigungsprozessen importiert und die Teststrategie danach ausrichtet, die bestmögliche Testabdeckung dieser Fehler zu erzielen und so den Fehlerschlupf zu minimieren.
Dass ein Leiterplattentest bestanden wird, heißt nicht notwendigerweise, dass die Leiterplatte auch in Ordnung ist, da die Testabdeckung lückenhaft sein kann. Daher ist es wichtig, mittels der IPC Qualitätskennzahlen die Fehler in TestWay Express mit der Testabdeckung zu verknüpfen.
Di Testabdeckung wird anhand theoretischer Modelle für Test- und Inspektionsstrategien wie APM, AOI, AXI, BST, FPT, ICT oder Funktionstest abgeschätzt. Dabei werden die Modelle an die Möglichkeiten der jeweiligen Testsysteme angepasst.
Sobald die Test-/Inspektionsprogramme fertiggestellt sind, kann TestWay Express das debuggte Testprogramm bzw. den Testbericht einlesen. Unter Verwendung von Industriestandard-Kennzahlen wird dann die abgeschätzte Testabdeckung mit der messtechnisch erreichten verglichen, um so Abweichungen aufzuspüren.
Für zahlreiche gängige Test-/Inspektionssysteme stehen über 45 Importtools für die Testabdeckung zur Verfügung. Zu den unterstützten Herstellern bzw. Systemen gehören Acculogic (BS, Scorpion, SPRINT); Aeroflex (4200, 5800); Agilent Technologies (i1000, i3070, 5DX, SJ10, SJ50); ASSET; CHECKSUM; CORELIS; CyberOptics, Dr. Eschke; GOEPEL (CASCON, OPTICON); JTAG Technologies; Mirtec; MYDATA, OMRON; Orbotech; SAKI; SEICA; SPEA (3030, 4040); TAKAYA (APT8000, APT9000); Teradyne (Z1800, Spectrum, GR228x, TS124); TRI (TR7500, TR8001); VI Technology; VISCOM; XJTAG und YESTech.

ASTER ist der führende Anbieter von Leiterplatten-Testability Analysewerkzeugen. Seine Stärken beruhen auf langjähriger Erfahrung und stets engen Kundenkontakten. Das 1993 gegründete Unternehmen entwickelt ein breites Produktspektrum für die Bereiche Leiterplatten-Testability, integrierte Betrachter für Schaltpläne und Layouts sowie Qualitätsdaten-Managementsysteme. Die bewährte Softwarelösung TestWay wird weltweit von vielen Unternehmen aus den Bereichen Leiterplattendesign und produktion eingesetzt. Sie bietet einen einzigartigen Ansatz zur Ermittlung der Anforderungen an die elektrische Testability sowie zur Berechnung der theoretischen Testabdeckung, die bereits in einer frühen Phase der Produktentwicklung erfolgen kann.
www.aster-technologies.com

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Datum: 02.11.2010 - 10:38 Uhr
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