ASSET richtet Technologien und Produkte auf eingebettete Instrumentation aus

ASSET unterstützt mit seiner führenden JTAG-Technologie und Boundary-Scan-Expertise die Industrie bei der Umstellung auf eingebettete Instrumentation

(firmenpresse) - RICHARDSON, TX/München (14. Mai 2008) Als Reaktion auf den zunehmenden Trend in der Elektronikindustrie zur Nutzung eingebetteter Instrumentation richtet ASSET® InterTech, Inc. (www.asset-intertech.com) das Unternehmen, die Produkte und Technologien auf die Bereitstellung offener Tools für die eingebettete Instrumentation in Design-Validierungs-, Test- und Debugging-Anwendungen aus.

Für schnelle Chips, I/O-Busse und Systeme sind viele der gängigen Validierungs- und Testtechnologien unzureichend oder ineffektiv. Neue Chip-Geometrien mit 45 Nanometer (nm) und weniger sowie Chip-Level-Packaging-Technologien wie SiP (System-in-a-Package) machen darüber hinaus Validierung, Test und Debugging mit herkömmlichen Technologien sehr schwierig, teilweise sogar unmöglich. Auf Grundlage der langjährigen Führungsposition im Bereich berührungsloser Boundary-Scan-Strukturtests auf Basis des IEEE 1149.1 JTAG Standards hat ASSET seine ScanWorks® Plattform mit eingebetteten Messfunktionalitäten in den letzten Jahren erheblich ausgebaut. Nach Überzeugung von Glenn Woppman, President und CEO von ASSET, wird das Unternehmen auch in Zukunft seine Führungsposition bei JTAG-Strukturtests behaupten und weiterhin innovative offene eingebettete Instrumentationslösungen entwickeln.

„Für ASSET ist das eine natürliche Weiterentwicklung, schließlich beschäftigen wir uns mit eingebetteten Mess- und Diagnose-Technologien bereits seit Mitte der 90er, als wir an der Entwicklung des Boundary-Scan-Standards und des Marktes mitgewirkt haben“, so Woppman. „Angesichts der Fortschritte bei Chips und Platinen avanciert eingebettete Instrumentation zur praktischsten und effizientesten Methode für Validierung und zum Testen und Debuggen von Designs. Die Tendenz in der Industrie geht bereits seit Einführung der Boundary-Scan-Technologie, also seit mehr als 15 Jahren, hin zu berührungslosen Methoden. Die eingebettete Insturmentation ist der nächste logische Schritt. In den vergangenen Jahren haben wir ScanWorks zu einer offenen Plattform für eingebettete Instrumentation mit Boundary-Scan, CPU-Emulations-Funktionstests, Intel® IBIST und andere gemacht.“




Messtechnik der nächsten Generation

Eingebettete Instrumentation ist die logische Fortsetzung von Trends, die seit zwei Jahrzehnten auf dem Markt für Test- und Mess-Systeme zu beobachten sind. (http://www.asset-intertech.com/news_article.html?newsID=106 und http://www.asset-intertech.com/news_article.html?newsID=79 ).



Von Anfang an wurden in der Elektronikindustrie externe Standalone-Messgeräte wie Oszilloskopen und Logik-Analyzer zur Validierung und zum Testen von Chips, Platinen und Systemen genutzt. Grundsätzlich arbeiten diese Geräte mit physischen Prüfsonden, um zu bestimmen, wie sich die Elektrik auf dem Chips und Boards verhält. In den 80er Jahren wurde die virtuelle Instrumentation eingeführt. Dabei wurden interne Softwaretreiber mit virtuellen Frontpanels genutzt, die externe Instrumente für Test- und Messzwecke steuern, wobei der PC als Rechnerplattform verwendet wurde. Aber die physische Prüfung, auf die die Messsysteme für den Zugriff angewiesen sind, ist mittlerweile in vielen Fällen schwierig bzw. ineffektiv geworden.

Jetzt reagieren die Chip-Hersteller mit eingebetteter Messfunktionalität, um ihre Anforderungen zu decken. Diese eingebetteten Mess-Systeme können von System-Design-, Validierungs- und Test-Ingenieuren wiederverwendet werden, die ein effektiveres und flexibleres Konzept zur Validierung von Designs und zum Testen und Debuggen von Platinen und Systemen benötigen. ScanWorks von ASSET ist eine offene, externe Plattform, die eine berührungslose Methode zur Automatisierung, Ansteuerung und Analyse der in einen Chip eingebauten Messfunktionalitäten bietet.



ScanWorks® – Die eingebettete Instrumentations-Plattform

ASSET nutzt mit seiner ScanWorks Plattform seine mehr als zwei Jahrzehnte lange Erfahrung als führender Tool-Anbieter für den Boundary-Scan-Markt (IEEE 1149.1 JTAG) zur Entwicklung offener, eingebetteter Messfunktionalitäten. Boundary-Scan, eine in Chips und Platinen eingebettete Testtechnologie, ist eine von mehreren Technologien, die als Basis für ein eingebettetes Instrumentations-Toolset dienen können.


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Datum: 21.05.2008 - 14:29 Uhr
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