PXI und NI LabVIEW bewältigen stetig steigende Anforderungen an die Geschwindigkeit bei Load-Pull-Messungen
Die Geschwindigkeit, Größe und Synchronisationsfunktionen von PXI minimieren die Messzeit für moderne Load-Pull-Prüfsysteme

(PresseBox) - National Instruments (Nasdaq: NATI) gab beim diesjährigen International Microwave Symposium ein gemeinsames Entwicklungsprojekt zu Load-Pull-Messlösungen von Anteverta Microwave, Focus Microwaves, Maury Microwave und Mesuro bekannt. Die genannten Anbieter von Load-Pull-Messlösungen nutzen ihre Erfahrung in Verbindung mit NI-PXI-Hardware und der Systemdesignsoftware LabVIEW, um die zunehmend schwierigeren Anforderungen hinsichtlich Source- und Load-Pull-Charakterisierung zu erfüllen, die an Mikrowellen-Leistungsverstärker für die Bereiche Luft- und Raumfahrt sowie Wireless-Infrastruktur gestellt werden.
Die Load-Pull-Charakterisierung ist ein unerlässliches Werkzeug zur Steigerung der Effizienz von Leistungsverstärkern. Aus Zeit- und Kostengründen haben Anbieter seit jeher Load-Pull-Messungen primär nur während der Entwicklung durchgeführt. Heutzutage jedoch ermöglichen es die hervorragende Geschwindigkeit und Flexibilität von PXI-basierten Systemen, die Eigenschaften von Leistungsverstärkern während der Produktionsprüfung zu verifizieren.
NI PXI ist elementarer Teil der mit LabVIEW rekonfigurierbaren I/O-Architektur (RIO), die auf neuesten Computertechnologien wie Multicore-CPUs und FPGAs basiert und die Programmierung dieser Technologien aus einer Entwicklungsumgebung heraus ermöglicht. Anteverta Microwave, Focus Microwaves, Maury Microwave und Mesuro kombinieren nun diese Architektur mit ihren jeweiligen Entwicklungsansätzen, um ihre Kunden bei der Vereinfachung von Prüfsystemen und der Verkürzung von Markteinführungszeiten zu unterstützen.
Zitat
?Mithilfe der Messgeschwindigkeit, die wir bei der Nutzung der NI-PXI-Plattform erhalten, konnten wir eine Lösung entwickeln, die sich für die Charakterisierung der Leistungsverstärker während der Entwicklung, Vorfertigung und Produktionsprüfung ideal eignet?, erklärt Mauro Marchetti, CEO von Anteverta Microwave. ?LabVIEW vereinfacht die Programmierung unseres Systems durch den Anwender enorm.?
?Modulare PXI-Produkte, beispielsweise der NI-Vektornetzwerkanalysator, vereinfachen die Load-Pull-Konfiguration, indem alle Messgeräte in einem kostengünstigen Chassis zusammengeführt werden. So werden die Gesamtmessgeschwindigkeit und das Handling verbessert?, erläutert Steve Dudkiewicz, Director of Marketing and Business Development bei Maury Microwave. ?Das System garantiert Anpassungsfähigkeit an neue Technologien und Modulationsarten, da PXI-Module ad hoc hinzugefügt werden können, und Anwender mithilfe eines NI-Open-Source-Load-Pull-Toolkits in LabVIEW Load-Pull-Sequenzen individuell anpassen und skripten können.?
?Wir verwenden für unsere RAPID-Load-Pull-Technik die neueste Generation kommerzieller PXI-Standardhardware, wodurch unsere Kunden Tests verglichen mit traditionellen Prüfmethoden schneller durchführen können?, so Simon Mathias, Vice President of Sales bei Mesuro. ?Es war leicht, kundenspezifische Signalverarbeitung in den Onboard-FPGA zu integrieren und zusätzlich die Systemleistung durch den Embedded-Prozessor zu beschleunigen. Dies ermöglicht zusammen mit den PXI RF-Up- und Downconvertern einen reibungslosen Betrieb.?
?Wir freuen uns sehr darauf, NI-PXI-Module in unsere Load-Pull-Lösungen zu integrieren?, äußert sich Zacharia Ouardirhi, General Manager bei Focus Microwaves. ?Sie sind kompakt, schnell, kostengünstig, anpassungsfähig, und sie machen viele Funktionen möglich, die bis vor kurzem nur für hochwertige und teure Konfigurationen verfügbar waren.?
Die NI-Plattform, das Ökosystem und der softwaredesignte Entwicklungsansatz bieten beachtliche Vorteile bei Geschwindigkeit, Genauigkeit und Flexibilität für RF-, Mikrowellen- und Wireless-Anwendungen. National Instruments präsentierte auf dem International Microwave Symposium mit den erwähnten Anbietern wie eine offene Softwareumgebung und modulare Hardware RF- und Mikrowellentechnik neu definiert.
Seit 1976 stellt National Instruments ([url=http://www.ni.com]www.ni.com[/url]) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie schneller produktiv, innovativ und kreativ arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. NI stellt den Erfolg seiner Kunden mit einem Ökosystem aus Dienstleistungen, Support und mehr als 700 Alliance Partnern weltweit sicher. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
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Seit 1976 stellt National Instruments ([url=http://www.ni.com]www.ni.com[/url]) Ingenieuren und Wissenschaftlern Werkzeuge zur Verfügung, mit denen sie schneller produktiv, innovativ und kreativ arbeiten können. Das Konzept des Graphical System Design gibt Anwendern eine Plattform mit integrierter Hard- und Software für die schnelle Entwicklung von Mess-, Steuer- und Regelsystemen an die Hand. NI stellt den Erfolg seiner Kunden mit einem Ökosystem aus Dienstleistungen, Support und mehr als 700 Alliance Partnern weltweit sicher. Das langfristige Ziel des Unternehmens ist, mit seinen Technologien einen Beitrag dazu zu leisten, unseren Alltag zu verbessern, unsere Gesellschaft zu unterstützen und den Herausforderungen der Menschheit als Ganzes zu begegnen. Dies gewährleistet den Erfolg von Angestellten, Zulieferern und Aktionären.
Datum: 04.07.2013 - 13:58 Uhr
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