spektroskopische ellipsometrie | Die neuesten Pressemitteilungen zu dem Thema
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Die letzten Pressemitteilungen zu dem Thema spektroskopische ellipsometrie


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21.04.2016: Die Messung von 15 normierten Elementen der Mueller Matrix mit dem inn ...

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ...

NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR

31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ...

Spektroskopisches Ellipsometer zur Messung aller 16 Müller Matrix Elemente

04.06.2014: Diese clevere Option erweitert den Anwendungsbereich der SENresearch E ...



 

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