Ultra kompakter USB3.0 Laser Beam Profiler

(PresseBox) - Laservision präsentiert die neue CMOS Beam Profiler Generation CinCam Nano. Die CinCam Nano ist sowohl mit 1/1.8" Detektor (1,3MPixel) als auch mit 1" Sensor (4,2MPixel) verfügbar. Durch entsprechendes Zubehör lässt sich der Einsatzbereich in den kW Leistungsbereich erweitern oder die Strahlgröße an die Sensorgeometrie anpassen.
Der Kern dieses leistungsstarken Beam Profilers bilden moderne, hochauflösende CMOS Sensoren mit high-speed USB 3.0 Schnittstelle. Der nutzbare Spektralbereich liegt zwischen 240nm-1320nm. Optional sind Varianten für den UV-Bereich (150nm-350nm) und für Telekom IR Wellenlängen (1495nm-1595nm) verfügbar. Die USB 3.0 Schnittstelle erlaubt Bildraten von bis zu 60Hz bei voller Auflösung.
Minimale Abmessungen ermöglichen höchste Flexibilität und erlauben Laserstrahlanalyse auf kleinstem Raum. Die speziell entwickelte Analysesoftware "RayCi" verarbeitet die 10Bit Daten und bestimmt die Laserstrahlparameter nach gültigen ISO-Standards. Die Software garantiert höchste Genauigkeit und Zuverlässigkeit und wird allen heutigen Anforderungen nach Strahlanalyse gerecht.
Einsatzgebiete sind Laseranwendungen in Industrie, Forschung und Entwicklung, beispielsweise die Überwachung der Strahlparameter, die Messung der Intensitätsverteilung im Nah-Feld / Fern-Feld, die Bestimmung der Laserstrahlqualität (M²).
Weitere Informationen zu unserem Angebot der Licht & Lasermesstechnik finden Sie auf unserer Homepage in der Rubrik "Optische Messtechnik".
Besuchen Sie uns vom 21. - 25. Oktober 2014 auf der Euroblech in Hannover. Halle 11, Stand A55.



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Datum: 20.10.2014 - 14:15 Uhr
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Optische Technologien

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