Time-to-Market: Schnelleres Prototyping für Ladeelektroniken
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Der Hauptnutzen von BeFAST besteht für den Entwickler darin, dass er die hohen Anforderungen, etwa bezüglich Geschwindigkeit, Isolation, Impulsfestigkeit und Effizienz, im direkten Zusammenspiel testen und charakterisieren kann. Er muss keinen eigenen Prototyp entwickeln, um den Nutzen der einzelnen Komponenten in seiner Anwendung abschätzen zu können. Das BeFAST unterstützt das Double-Pulse-Test (DPT) Verfahren und die SiC-FET werden in einem von externen Einflüssen erheblich reduzierten Setup getestet. Dies kann im Endeffekt einen Time-to-Market Vorteil von mindestens 4 Wochen bedeuten.Â
BeFAST basiert auf einem extrem schnellen SiC-Kaskodenschalter aus der UF3SC-Serie von United Silicon mit dem derzeit kleinsten verfügbaren Einschaltwiderstand RDSon von weniger als 9 mOhm bei 1200 Volt. Der niederohmige Widerstand führt in der Folge zu geringeren Wärmeverlusten und ermöglicht so kleinere Bauweisen. Der auf der Platine integrierte DC-DC Wandler von Murata sorgt in Verbindung mit einem digitalen Isolator von NVE für eine sehr hohe Impulsfestigkeit (CMTI) von mehr als 150 V/ns und eine Isolation von mehr als 5,2 kV. Optional kann die Schaltung um Sensorkomponenten für die Temperatur- und Strommessung erweitert werden. In einem gerade ablaufenden Prozess wird BeFAST auf SiC-FET-Leistungsschalter der nächsten 4te Generation vorbereitet.Â
Das Evaluation-Kit wird mit ausführlicher Dokumentation, wie genauer Teileliste, Design-Dateien (Layout und Gerber), Application Notes usw., ausgeliefert. Das Engineering-Team von Angst+Pfister gewährleistet in enger Kooperation mit den Lieferanten die Kompatibilität der einzelnen Produkte und steht auch für Support-Anfragen zur Verfügung.
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Datum: 07.06.2021 - 16:43 Uhr
Sprache: Deutsch
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Zürich
Kategorie:
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