spektroskopische ellipsometer | Die neuesten Pressemitteilungen zu dem Thema

Die letzten Pressemitteilungen zu dem Thema spektroskopische ellipsometer


PresseMitteilungen zu dem Schlagwort spektroskopische ellipsometer


Produktvorstellung des neuen spektroskopischen Ellipsometers SENresearch 4.0

21.04.2016: Die Messung von 15 normierten Elementen der Mueller Matrix mit dem inn ...

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ...

NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR

31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ...

SENTECH im regen Erfahrungsaustausch mit Ellipsometer-Nutzern auf dem 8. Ellipsometrie Workshop (WSE 2014) in Dresden

28.04.2014: Dieses dreitägige Event wurde vom Leibniz Institute für Polymerforsc ...



 

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