Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“
ID: 1064881
Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.
Aktuelle Themen wie die Charakterisierung von organischen Schichten, wie sie in der Herstellung von OLEDs oder von organischen Solarzellen vorkommen oder auch die Materialcharakterisierung von porösen Schichten und Schichten in der Photovoltaik stehen im Vordergrund. Darüber hinaus werden Mitarbeiter von SENTECH Instruments über Neuentwicklungen unserer optischen Dünnschichtmesstechnik berichten und Applikationen aufzeigen.
Gerne führen wir während des Seminars unsere Ellipsometer und Reflektometer vor.
Die Vorträge werden den Seminarteilnehmern nach der Veranstaltung zur Verfügung gestellt.
Bitte melden Sie sich möglichst zeitnah mit dem angehängten Anmeldeformblatt an.
Das Anmeldeformblatt finden Sie auf unser Webseite
Die Teilnehmergebühr beträgt EUR 180,00 incl. MwSt.
Bitte faxen Sie uns Ihre Anmeldung umgehend zu oder schicken Sie die ausgefüllte Anmeldung an: sales@sentech.de. Die Teilnehmerzahl ist auf 30 Teilnehmer begrenzt.
Auskunft über das Seminar erhalten Sie unter der Telefonnummer: 089 897 9607-0
Themen in dieser Pressemitteilung:
ellipsometer
spektroskopische-ellipsometer
ellipsometer-workshop
duennschichtmesstechnik
duennschichtmesstechnik-workshop
workshop-duennschichtmesstechnik
workshop-ellipsometrie
workshop-reflektometrie
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
SENTECH Instruments gehört zu den führenden Anbietern von Plasma-Prozesstechnologie Anlagen zum Beschichten sowie zum Ätzen und offeriert Dünnschichtmesstechnik insbesondere Ellipsometer.
Datum: 27.05.2014 - 11:53 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1064881
Anzahl Zeichen: 1437
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Pia Romanowski
Stadt:
Berlin
Telefon: +49 30 63 92 55 20
Kategorie:
Forschung
Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 27.05.2014
Diese Pressemitteilung wurde bisher 4987 mal aufgerufen.
Die Pressemitteilung mit dem Titel:
"Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“ "
steht unter der journalistisch-redaktionellen Verantwortung von
SENTECH Instruments GmbH (Nachricht senden)
Beachten Sie bitte die weiteren Informationen zum Haftungsauschluß (gemäß TMG - TeleMedianGesetz) und dem Datenschutz (gemäß der DSGVO).
Die SENTECH Instruments GmbH feiert am 17. Juli 2019 Richtfest für ein neues Produktions- Lager- und Bürogebäude im Wissenschafts- und Technologiepark Berlin Adlershof. SENTECH ist einer der weltweit führenden Anbieter optischer Messtechnik und Anlagen für die Plasma-Prozess-Technik. Mit dem ne
SENTECH lädt zum Seminar “Plasma-Prozess-Technologie” ...
SENTECH veranstaltet am 28. März 2019 ein anwendungsorientiertes Seminar über „Plasma-Prozess-Technologie“ in den Räumen von SENTECH Instruments in Berlin Adlershof. Auch dieses Jahr konnten wir kompetente Referenten/in aus der Forschung gewinnen, die Ihnen zum Plasmaätzen und Beschichten so
„4. Element Plasma“ im Fokus der Industrieforschung ...
SENTECH konnte innerhalb der Projektarbeit in zwei Bereichen Ergebnisse generieren: Erstens wurde ein optisches Breitbandmonitoring mit adaptiver Strategie entwickelt, welches auf der in situ Transmissionsmessung basiert. Dieses arbeitet mit adaptiven Strategien während der Abscheidung zur Bes
Weitere Mitteilungen von SENTECH Instruments GmbH
AVL Emission Test Systems bringt den Quantenkaskadenlaser für die N2O-Messung auf den Markt ...
Redaktioneller Beitrag 23.05.2014 Herr Krummenoehler, Ihr Unternehmen bringt in diesem Frühjahr 2014 den QCL für die Abgasmesstechnik auf den Markt. Was hat zu der Entwicklung dieses Spezialgerätes geführt und welche Ziele sind damit verbunden? Uwe Krummenoehler:„Nach den Anforderunge
PRESSEMITTEILUNG ...
Eurasburg, 10.09.2013 Die TriLevTec-Anlagen der Small Energy GmbH produzieren Energie, Trinkwasser und Nahrungsmittel in einem geschlossenen Kreislauf Gemeinden, Industrie sowie Kleine und Mittlere Unternehmen (KMU) können ab jetzt auf eine neue, erneuerbare und nachhaltige Technologie zurückg
Hochgebirge im Wandel: Gletscher(forschung) hautnah im Nationalpark Hohe Tauern ...
Der Naturraum rund um Gletscher verändert sich stetig. Dabei spielt die Zu- oder Abnahme der Eismassen eine wesentliche Rolle. Das Erfassen dieser Dynamik ist hoch komplex. Damit beschäftigen sich die WissenschafterInnen im Nationalpark Hohe Tauern, dem größten Nationalpark Mitteleuropas. Die be
