Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“
ID: 1064881
Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.
Aktuelle Themen wie die Charakterisierung von organischen Schichten, wie sie in der Herstellung von OLEDs oder von organischen Solarzellen vorkommen oder auch die Materialcharakterisierung von porösen Schichten und Schichten in der Photovoltaik stehen im Vordergrund. Darüber hinaus werden Mitarbeiter von SENTECH Instruments über Neuentwicklungen unserer optischen Dünnschichtmesstechnik berichten und Applikationen aufzeigen.
Gerne führen wir während des Seminars unsere Ellipsometer und Reflektometer vor.
Die Vorträge werden den Seminarteilnehmern nach der Veranstaltung zur Verfügung gestellt.
Bitte melden Sie sich möglichst zeitnah mit dem angehängten Anmeldeformblatt an.
Das Anmeldeformblatt finden Sie auf unser Webseite
Die Teilnehmergebühr beträgt EUR 180,00 incl. MwSt.
Bitte faxen Sie uns Ihre Anmeldung umgehend zu oder schicken Sie die ausgefüllte Anmeldung an: sales@sentech.de. Die Teilnehmerzahl ist auf 30 Teilnehmer begrenzt.
Auskunft über das Seminar erhalten Sie unter der Telefonnummer: 089 897 9607-0
Themen in dieser Pressemitteilung:
ellipsometer
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duennschichtmesstechnik
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workshop-reflektometrie
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
SENTECH Instruments gehört zu den führenden Anbietern von Plasma-Prozesstechnologie Anlagen zum Beschichten sowie zum Ätzen und offeriert Dünnschichtmesstechnik insbesondere Ellipsometer.
Datum: 27.05.2014 - 11:53 Uhr
Sprache: Deutsch
News-ID 1064881
Anzahl Zeichen: 1437
Kontakt-Informationen:
Ansprechpartner: Pia Romanowski
Stadt:
Berlin
Telefon: +49 30 63 92 55 20
Kategorie:
Forschung
Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 27.05.2014
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