Einladung zum Seminar “Ellipsometrie und Reflectometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015
ID: 1213282
Gerne laden wir Sie auch in diesem Jahr zu unserem Seminar „Ellipsometrie und Reflektomerie zur Charakterisierung dünner Schichten“.
Wir präsentieren Ihnen ein anwendungsorientiertes Seminar mit kompetenten Referenten.
Aktuelle Themen, wie die Charakterisierung strukturierter Oberflächen, Messung an PERC Solarzellen, Prozesskontrolle von Beschichtungen stehen im Vordergrund.
Bitte downloaden Sie hier das Seminarprogramm und das Anmeldeformblatt.
Nach der Anmeldung schicken wir Ihnen die Anmeldungsbestätigung sowie die Anfahrtsskizze.
Falls Sie eine Übernachtung benötigen organisieren wir gerne eine Übernachtung im Veranstaltungshotel. Wir freuen uns, Sie auf unserem Dünnschichtmesstechnikseminar im Commundo-Tagungshotel in Stuttgart begrüßen zu dürfen. Die Teilnahmegebühr beträgt 180,00 € incl. MwSt. Bitte übersenden Sie uns Ihre Anmeldeunterlagen umgehend, da die Teilnehmerzahl auf 30 begrenzt ist.
Themen in dieser Pressemitteilung:
Unternehmensinformation / Kurzprofil:
Datum: 18.05.2015 - 15:54 Uhr
Sprache: Deutsch
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Stadt:
Berlin
Kategorie:
Messe und Ausstellungen
Meldungsart: Unternehmensinformation
Versandart: Veröffentlichung
Freigabedatum: 18.05.2015
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