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SENTECH feiert Richtfest

30.07.2019: Die SENTECH Instruments GmbH feiert am 17. Juli 2019 Richtfest für ei ...

Produktvorstellung des neuen spektroskopischen Ellipsometers SENresearch 4.0

21.04.2016: Die Messung von 15 normierten Elementen der Mueller Matrix mit dem inn ...

SENTECH Seminar „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015“

03.08.2015: Unter den Gastrednern befanden sich Vertreter von Universitäten sowie ...

NEU! 10-mal schnellere Messungen im NIR

31.07.2015: Dies wurde möglich durch die Weiterentwicklung unserer leistungsstark ...

Einladung zum Seminar “Ellipsometrie und Reflectometrie zur Charakterisierung dünner Schichten 2015

18.05.2015: Veranstaltungsort: Commundo-Tagungshotel Stuttgart / Universitätscamp ...

SENTECH auf der ALD China 2014

17.11.2014: Dieses durch SENTECH patentierte Produkt ermöglicht die Überwachung ...

Spektroskopisches Ellipsometer zur Messung aller 16 Müller Matrix Elemente

04.06.2014: Diese clevere Option erweitert den Anwendungsbereich der SENresearch E ...

SENTECH im regen Erfahrungsaustausch mit Ellipsometer-Nutzern auf dem 8. Ellipsometrie Workshop (WSE 2014) in Dresden

28.04.2014: Dieses dreitägige Event wurde vom Leibniz Institute für Polymerforsc ...

SENTECH Seminar „Plasma-Prozesstechnologie“ 2014

24.03.2014: Von eingeladenen Referenten und von SENTECH Mitarbeitern wurden neus ...



 

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