LIV-Testsysteme für Laserdioden
ID: 1961554
Instrument Systems entwickelt flexible Lichtmesstechnik-Lösungen zur optischen Charakterisierung und Inspektion von Laserdioden in Labor und Produktion
LIV-Testsysteme bestehen in der Regel aus Photodiode, Ulbricht-Kugeln und Source-Measure-Units (SMUs). In Kombination mit einem Spektralradiometer können zusätzlich spektrale Eigenschaften der Laserdioden wie Peak-Wellenlänge und Halbwertsbreite (FWHM) bestimmt werden. Diese Größen zeigen häufig eine Abhängigkeit vom Betriebsstrom. Das kann für ein VCSEL mit zunehmendem Betriebsstrom eine Verschiebung der Peak-Wellenlänge zu höheren Wellenlängen hin bedeuten (siehe Abbildung). Je nach Lasertyp und Anforderung ist weitere Messtechnik erforderlich. Mit steigender Temperatur nimmt die Effizienz von Laserdioden oft signifikant ab. Deshalb ist für Applikationen zum Beispiel im Automotive-Bereich eine temperaturabhängige Analyse relevant. Die SpecWin Pro unterstützt hierzu die Anbindung einer externen Temperatur-Einheit für Tests von 15 bis 150 Grad Celsius. Für einige Anwendungen ist auch ein gepulster Betriebsmodus der VCSEL-Arrays erforderlich. Große Unterschiede zwischen der kontinuierlichen und der gepulsten L/I-Kurve deuten auf eine schlechte Die-Befestigung oder einen Leckstrom hin und somit auf eine mindere Laserqualität. Für Messungen im Nanosekundenbereich eignet sich der Pulsed-VCSEL-Tester (PVT). Die Kamerasysteme der VTC-Serie ermöglichen eine umfassende Charakterisierung des Strahlprofils im Nah- und Fernfeld sowie der Polarisationseigenschaften. Mit dem LEDGON steht ein Benchtop-Goniometer zur Verfügung, um die Abstrahlcharakteristik von Laserdioden winkelaufgelöst zu bestimmen.
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Datum: 25.02.2022 - 11:43 Uhr
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